電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗雜志部級期刊

電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗期刊介紹

《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》是由工業(yè)和信息化部電子第五研究所(中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所)工業(yè)和信息化部電子第五研究所 (中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所) (中國賽寶實驗室)主辦，中華人民共和國工業(yè)和信息化部主管的全國性電子類期刊，創(chuàng)刊于1980年，刊號（CN 44-1412/TN，ISSN 1672-5468），全年定價：260.00元/期，雙月刊。該雜志以刊登電子科學(xué)論文、評價電子科研成果、探討電子教學(xué)規(guī)律、傳播電子教學(xué)經(jīng)驗、開展電子學(xué)術(shù)討論、報道電子研究動態(tài)、提供國內(nèi)外電子信息為主旨，引領(lǐng)電子前沿和熱難點問題研究，助電子經(jīng)學(xué)者成長。該刊級別為部級期刊，歡迎廣大讀者訂閱。

《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》期刊欄目主要有：自動化技術(shù)及設(shè)備 計算機科學(xué)與技術(shù) 計量與測試技術(shù) 可靠性與環(huán)境適應(yīng)性理論研究 可靠性與環(huán)境試驗技術(shù)及評價 仿真建模與分析 軟件可靠性與評測技術(shù) 可靠性設(shè)計與工藝控制 電子 電路設(shè)計與應(yīng)用等

電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗歷史收錄情況

• 日本科學(xué)技術(shù)振興機構(gòu)數(shù)據(jù)庫

電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗投稿須知

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